技術文06——為高精端儀器創造“干凈”的環境

電子顯微鏡(SEM/TEM)能讓我們看到一個肉眼無法觀察到的世界。但是由于震動、磁場等干擾因素的存在,嚴重影響了電子束對樣品的相對位置,導致電鏡成像圖出現毛刺現象,變得模糊不清。電子顯微鏡價格往往不菲,因為這些干擾因素導致成像質量差會降低電鏡的實際性能。因此,如何消除這些干擾因素,獲得高品質的電鏡圖,是我們的目標!

理化(香港)有限公司目前推出電鏡周邊產品分為兩類。

第一類是環境模擬測量:

SC11專門用于對高精端儀器進行環境(磁場、振動、噪聲)現場檢測。該系統測試準確度高,以圖形形式顯示結果。由1-2名專業工程師在準備安裝或者已經安裝了高精端儀器的現場進行測量,從而判斷場地是否滿足儀器的使用要求。

第二類是環境改善:

1 主動消磁:SC22SC24SC26配合適用于高精端儀器現場的布線方式,安裝后可以解決由磁場干擾而帶來的成像問題。這類方案較傳統的屏蔽房而言,對低頻磁場的干擾更具有優勢。

2、主動減震:AVI系列減震器通過消除因環境而產生的低頻振動,讓用戶獲得清晰的圖像。該方案在0-5 Hz之間比被動無源減震方式具有更好的性能。

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